text: 1. 选择子组大小，频率和数据
  a)子组大小:一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。
  b)子组频率:在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。
  2. 建立控制图及记录原始数据(见下图)
  式中: X1 ，X2
  n 表示子组的样本容量4. 选择控制图的刻度
  5. 将均值和极差画到控制图上
  合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。
  二、计算控制限
  其系数值
  3.在控制图上作出均值和极差的控制限
  平均极差和过程均值画成实线。
  各控制限画成虚线。
  注2:因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差，
  因此，首先应分析R图。
  1. 超出控制限的点
  a) 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分
  c.1控制限或描点时描错
  c.2 分布的宽度变小(变好)
  c.3 测量系统已改变(包括数据编辑或变换)
  c-2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值(如:从几组轴中，每组抽一根来测
  取数据)。
  d-1 控制限计算错或描点或描错。
  2. 识别并标注所有特殊原因(极差图)
  a)对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。
  b)应及时分析问题，例如:出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。
  3. 重新计算控制限(极差图)
  a) 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的平均极差R 和控制限，并画下来，使所有点均处于受控状态。